यूवी और दृश्य प्रकाश के लिए

प्रयोगशाला और प्रक्रिया के लिए यूवी सेंसर और VIS सेंसर

यूवी सेंसर और VIS सेंसर निर्धारित वर्णक्रमीय परासों के भीतर विकिरण तीव्रता (इरेडियंस) या विकिरण मात्रा को अभिग्रहित करते हैं। चयन को निर्धारित करने वाले कारक हैं: स्रोत, तरंगदैर्घ्य परास, अपेक्षित पठन, कोणीय वितरण, संस्थापन स्थिति और वैद्युत अंतरापृष्ठ। यह श्रेणी हस्तचालित उपकरणों, स्थिर प्रक्रिया निगरानी और ग्राहक-विशिष्ट मापन कार्यों के लिए सेंसरों को क्रमबद्ध करती है।

मुझे कौन-सा सेंसर चाहिए?

चयन दो राशियों पर आधारित होता है। वर्णक्रमीय परिसर अनुप्रयोग के अनुसार तय होता है – क्योरिंग प्रक्रियाओं में यह फोटोइनिशिएटर के अवशोषण बैंड के अनुसार होता है। मापन परिसर अपेक्षित विकिरण तीव्रता (इरेडियंस) के अनुसार तय होता है, उपकरण के अनुसार नहीं। प्रत्येक स्रोत के लिए मार्गदर्शक मानों सहित संपूर्ण चयन क्रम यूवी सेंसर का चयन के अंतर्गत दिया गया है।

सेंसर को केवल वर्णक्रमीय परिसर से ही नहीं, बल्कि स्पेक्ट्रम से मेल खाना चाहिए। निम्न-दाब लैंपों के लिए 254 nm के आसपास संकीर्ण-बैंड भारांकन पर्याप्त है, क्योंकि व्यावहारिक रूप से संपूर्ण UVC उत्पादन उसी रेखा में होता है। मध्यम-दाब लैंप संपूर्ण UVC परिसर में ब्रॉडबैंड उत्सर्जन करते हैं और उन्हें एक ऐसे सेंसर की आवश्यकता होती है जिसका UVC भारांकन व्यापक तथा सपाट हो और जो ठीक उसी लैंप प्रकार के लिए अंशांकित हो। UVC LED – सामान्यतः 265 से 280 nm तक – के लिए उनके शिखर तरंगदैर्घ्य पर अंशांकन आवश्यक है। स्रोत-विशिष्ट अंशांकन गुणकों के बिना एक ही सेंसर इन तीनों स्रोतों पर तुलनीय मान नहीं देता। ऐसा क्यों है, यह यूवी सेंसरों की संरचना और त्रुटि स्रोत के अंतर्गत समझाया गया है।

सभी सेंसर फैक्टरी अंशांकन प्रमाणपत्र के साथ अंशांकित रूप में भेजे जाते हैं और उनका पुनर्अंशांकन किसी भी समय किया जा सकता है; प्रक्रियाएँ और अभिलेख यूवी अंशांकन के अंतर्गत वर्णित हैं। सतत निगरानी के लिए इनलाइन सेंसर उपलब्ध हैं; कार्यस्थल उद्भासन मापन की संवेदनशीलता और भारांकन से जुड़ी अपनी अलग आवश्यकताएँ होती हैं – देखें कार्यस्थल उद्भासन मापन। उपयुक्त प्रदर्शन इकाइयाँ यूवी मीटर और विकिरणमापी (रेडियोमीटर) के अंतर्गत सूचीबद्ध हैं तथा विनिमेय मापन शीर्ष विकिरणमापी (रेडियोमीटर) सेंसर और मापन शीर्ष के अंतर्गत। मरम्मत और स्पेयर पार्ट्स सेवा और मरम्मत के अंतर्गत संभाले जाते हैं।

अकेला एक यूवी सेंसर अभी माप नहीं है। अंततः एक विश्वसनीय मान एक शृंखला से बनता है: सेंसर, वर्णक्रमीय भारण, प्रवर्धक और इंटरफ़ेस, अंशांकन, आरोहण स्थिति। इनमें से कोई भी कड़ी परिणाम को उपकरण के विभेदन से अधिक विचलित कर सकती है; इसीलिए संवेदन को समग्र रूप में अभिकल्पित करना लाभकारी होता है।

वर्णक्रमीय परास और माप परास के अतिरिक्त, दो और निर्णय अभिकल्पना को दिशा देते हैं:

• इंटरफ़ेस। संयंत्र के लिए 0–10 V या 4–20 mA, और वहाँ RS-485 या Ethernet जहाँ अंशांकन स्थिति तथा सेंसर प्रकार भी पठन के साथ जाने चाहिए – यही चयन बाद में तय करता है कि किसी विचलन को सेंसर अपवाह माना जाए या प्रक्रिया दोष।
• आरोहण स्थिति। सेंसर वही मापता है जो सेंसर तक पहुँचता है, वह नहीं जो कार्यवस्तु तक पहुँचता है। दूरी, ग्राह्यता कोण और खिड़की का मलिनीकरण यह तय करते हैं कि दोनों में संबंध है या नहीं।

किसी संयंत्र में विकिरण तीव्रता (इरेडियंस) की सतत निगरानी के लिए स्वीकृति माप से भिन्न गुणधर्म आवश्यक होते हैं: पठन को पहले ही दिन सर्वाधिक सटीक होना आवश्यक नहीं, उसे वर्षों तक स्थिर बने रहना है। यूवी सेंसर आंतरिक रूप से कैसे कार्य करता है और उसके त्रुटि स्रोत कहाँ हैं, यह यूवी सेंसर कैसे कार्य करते हैं के अंतर्गत दिया गया है; यूवी सेंसर फ़ाइंडर वर्णक्रमीय परास और माप कार्य के अनुसार उपयुक्त सेंसर खोजता है।

• यूवी क्योरिंग (पराबैंगनी उपचारण) और आबंधन में विकिरण मात्रा नियंत्रण
• यूवी विकिरणन की निगरानी 
• पैकेजिंग उद्योग में विसंक्रमण प्रणालियों का नियंत्रण
• UVC जल विसंक्रमण, UVC अपशिष्ट जल उपचार
• लैंप उत्पादन में लैंप निगरानी और गुणवत्ता आश्वासन
• कृत्रिम प्रकाशिक विकिरण के कारण कार्यस्थल सुरक्षा का मापन
• प्रकाशमितीय मापन
• PLC नियंत्रण और लैंप शक्ति नियमन

सही सेंसर खोजें: UV Sensor Finder अनुप्रयोग, तरंगदैर्घ्य और फॉर्म फैक्टर के अनुसार तीन सर्वाधिक उपयुक्त यूवी सेंसर और मापी प्रस्तावित करता है – मुख्य मानों, सिस्टम पार्टनर और कारणों के साथ।