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UVpad E – सटीक वर्णक्रमीय यूवी मापन

UVpad E एक स्पेक्ट्रोरेडियोमीटर (वर्णक्रमीय विकिरणमापी) है जिसमें यूवी विकिरण तीव्रता, यूवी विकिरण मात्रा और स्पेक्ट्रम मापने के लिए एक बाहरी सेंसर है। 512 फोटोडायोड 2 nm की वर्णक्रमीय बैंडविड्थ पर 240 nm से 480 nm ± 5 nm तक की तरंगदैर्घ्य सीमा को कवर करते हैं; मापन सीमा 2 से 5000 mW/cm² तक है, और उच्च-शक्ति संस्करण में 25 से 20,000 mW/cm² तक है। UVA, UVB और UVC में वर्गीकरण मानक-अनुरूप और अनुरेखणीय है।

UVpad E वर्णक्रमीय मापन तकनीक के लाभों को एक हैंडहेल्ड और संचालित करने में आसान विकिरणमापी (रेडियोमीटर) के साथ जोड़ता है। UVpad E तकनीकी रूप से हमारे सफल विकिरणमापी UVpad पर आधारित है। बाहरी सेंसर और एक अनुकूलित डिवाइस सॉफ्टवेयर के साथ, यह और भी अधिक सटीक और संचालित करने में आसान है।

यूवी विकिरण तीव्रता के सटीक मापन के लिए तथा विभिन्न यूवी लैंपों और यूवी LED की तुलना के लिए स्पेक्ट्रोरेडियोमीटर UVpad E का उपयोग करें। 512 फोटोडायोड 240–480 nm की तरंगदैर्घ्य सीमा में स्पेक्ट्रम को मापते हैं। UVA, UVB और UVC में वर्गीकरण अंतरराष्ट्रीय मानकों के अनुसार और अनुरेखणीय रूप से किया जाता है। केवल एक प्रकाश स्रोत के लिए अंशांकन की आवश्यकता नहीं रहती। 

मापन के दौरान, स्पेक्ट्रम ग्राफिक डिस्प्ले पर दिखाया जाता है। UVA, UVB, UVC और VIS के लिए विकिरण तीव्रताएँ एक बटन के क्लिक से उपलब्ध हैं। पृष्ठभूमि में, स्पेक्ट्रम पहले से ही रिकॉर्ड किया जा चुका होता है। मापन करते समय, विकिरण मात्रा और कालानुक्रमिक विकिरण तीव्रता क्रम को अतिरिक्त रूप से दस्तावेज़ीकृत किया जा सकता है। स्पेक्ट्रा और मापन डेटा को निर्यात किया जा सकता है और प्रदान किए गए सॉफ्टवेयर के साथ मूल्यांकित किया जा सकता है। इसके अतिरिक्त, UVpad E का उपयोग एक पारंपरिक पीसी-नियंत्रित स्पेक्ट्रोमीटर के रूप में भी किया जा सकता है।

UVpad E फैक्ट्री-अंशांकित रूप में आपूर्ति की जाती है। वैकल्पिक रूप से, हम DIN EN ISO/IEC 17025:2018-03 के अनुसार एक प्रत्यायित अंशांकन और परीक्षण की पेशकश करते हैं।

हमारे विकिरणमापी RM-12, RMD Pro और स्पेक्ट्रोरेडियोमीटर UVpad E के साथ, हम यूवी मापन तकनीक की संपूर्ण श्रृंखला को कवर करते हैं। उपयुक्त यूवी मापन उपकरण चुनने में आपकी सहायता करने में हमें प्रसन्नता होगी।

उत्पाद प्रकारस्पेक्ट्रोरेडियोमीटर: यूवीए, यूवीबी, यूवीसी और मुश्किल से पहुंच वाले बिंदुओं के लिए बाहरी सेंसर हेड वाला स्पेक्ट्रोरेडियोमीटर
वर्णक्रमीय परास240–480 nm (वर्णक्रमीय रूप से विभेदित)
मापन परास2–5000 mW/cm² (मानक), 25–20000 mW/cm² (उच्च-शक्ति), 1–1000 mW/cm² (उच्च-संवेदनशीलता); विकिरण मात्रा: 0.01 mJ/cm²–600 J/cm²
अंशांकन अनिश्चितता (सामान्यतः)5.0–9.5 % (k = 2)
आउटपुट / इंटरफ़ेसइंटरफ़ेस: USB
कालिक विभेदनमापन समय: 5 s–8 min, डेटा भंडारण दर पर निर्भर करता है
अंशांकनPTB के प्रति अनुरेखणीय; फैक्टरी अंशांकन, पुनर्अंशांकन योग्य
मानक / दिशानिर्देशकोई उत्पाद-विशिष्ट मानक नहीं; DIN EN ISO/IEC 17025:2018 के अनुसार अंशांकन उपलब्ध
इसके लिए उपयुक्तफोटोबायोलॉजी और बायोटेक्नोलॉजी; यूवी क्योरिंग और फोटोपॉलिमराइज़ेशन; इलेक्ट्रॉनिक्स और अर्धचालक; फार्मा और प्रकाश स्थायित्व
इसके लिए उपयुक्त नहीं5000 mW/cm² से अधिक विकिरण तीव्रता (मानक परास); 60 °C से अधिक सेंसर तापमान; पानी के नीचे या दबाव में उपयोग; 172 nm पर VUV मापन
डेटाशीट संशोधनRev. 2026-09-08 (e_uvpad-e-spectral-radiometer.pdf)

ऊपर बताई गई अंशांकन अनिश्चितता, अंशांकन की विस्तारित अनिश्चितता (k = 2, विश्वास स्तर लगभग 95 %) है और यह अंशांकन स्रोत तथा अंशांकन परिस्थितियों पर लागू होती है। उपयोग के दौरान माप अनिश्चितता अधिक होती है: वास्तव में उपयोग किए गए स्रोत पर वर्णक्रमीय बेमेल, सेंसर तापमान, अंशांकन के बाद से जीर्णन तथा स्रोत से दूरी और संरेखण इसमें और जुड़ जाते हैं। ये सब मिलकर किस प्रकार एक अनिश्चितता बजट बनाते हैं, यह यूवी माप में माप अनिश्चितता के अंतर्गत समझाया गया है।

UVpad E के साथ प्रदर्शित मापन परिणाम

  • अधिकतम विकिरण तीव्रता पर स्पेक्ट्रा
  • विकिरण तीव्रता और अधिकतम विकिरण तीव्रता
  • विकिरण तीव्रता प्रोफ़ाइल
  • विकिरण मात्रा (UVA, UVB, UVC, VIS)

वर्णक्रमीय विकिरणमापी के अनुप्रयोग

  • यूवी-एलईडी और पराबैंगनी लैंप का मापन
  • यूवी विकिरण मात्रा मापन
  • सार्वत्रिक विकिरण तीव्रता मापन

स्पेक्ट्रल रेडियोमीटर UVpad E के लिए UVpad व्यूअर के स्क्रीनशॉट

मापों को प्रदर्शित करने, मूल्यांकन करने और सहेजने के लिए UVpad को पीसी से कनेक्ट करें। माप डेटा की सरल तुलना के कारण, स्पेक्ट्रम, विकिरण तीव्रता या विकिरण मात्रा में परिवर्तन एक बटन के स्पर्श पर संभव हैं। प्रत्येक माप के साथ, माप डेटा और समय सहेजा जाता है। टिप्पणियाँ सहेजने की क्षमता के साथ, आप विभिन्न मापों के बावजूद भी हमेशा एक अवलोकन बनाए रखेंगे।

यूवी विकिरणमापी का उपयोग

क्या आप जानते हैं?
UVpad E तकनीकी रूप से हमारे सफल विकिरणमापी UVpad पर आधारित है। बाहरी सेंसर और अनुकूलित प्रोग्रामिंग के साथ, UVpad E और भी अधिक सटीक और उपयोग में आसान है।

UVpad E को एक इंटरैक्टिव 3D मॉडल के रूप में अनुभव कीजिए

हाउसिंग और सेंसर हेड को घुमाइए, डिस्प्ले का संचालन कीजिए और मेनू नेविगेशन आज़माइए – बिल्कुल वास्तविक डिवाइस की तरह।

UVpad E को 3D प्रोडक्ट व्यूअर में सभी दिशाओं से देखा जा सकता है – मूल के अनुरूप, CAD डिज़ाइन डेटा से बनाया गया, जिसमें इनपुट ऑप्टिक्स और लाइट गाइड भी शामिल हैं। इसकी केबल पर लगा बाहरी सेंसर भी शामिल है – यही वह विशेषता है जो UVpad E को UVpad से अलग बनाती है और इसे संकरे विकिरणन कक्षों में पहुँचने में सक्षम बनाती है।

स्पेक्ट्रा रेडियोमीटर UVpad E की तकनीकी जानकारी

वर्णक्रमीय परास 240–480 nm ± 5 nm
संस्करण मानक, हाई-पावर, हाई-सेंसिटिविटी
वर्णक्रमीय बैंडविड्थ 2 nm
पिक्सेल दूरी लगभग 0.5 nm
मापन परास, विशिष्ट 2–5000 mW/cm² (मानक), 25–20000 mW/cm² (हाई-पावर), 1–1000 mW/cm² (हाई-सेंसिटिविटी)
विभेदन क्षमता 0.01 mW
विकिरण मात्रा 0.01 mJ/cm² - 600 J/cm²
मापन समय 5 s से 8 min तक, डेटा भंडारण दर पर निर्भर करते हुए
मेमोरी 50 मापन
प्रतिचयन दर 10 ms - 10 s
डेटा भंडारण दर 100 Hz से 1 Hz तक
डिस्प्ले ग्राफिकल, 128 × 64 px
आयाम 160 × 100 × 20 mm
वज़न लगभग 500 g
सेंसर आयाम, प्रकार 1 Ø 40 mm, h 35 mm
सेंसर आयाम, प्रकार 2 Ø 40 mm, h 25 mm
सेंसर आयाम, प्रकार 3 Ø 40 mm, h 10 mm
प्रकाशिक फाइबर, लंबाई 1.5 m
प्रकाशिक फाइबर, प्रकार यूवी सिलिका फाइबर धातु परिरक्षण के साथ
प्रकाशिक फाइबर, कनेक्टर SMA
सेंसर वज़न लगभग 120 g
सेंसर, प्रचालन तापमान 0–70 °C
सेंसर, आर्द्रता 80 % से कम, संघनन रहित
अनुमत प्रचालन तापमान 0–60 °C
भंडारण तापमान -10–60 °C
आर्द्रता 80 % से कम, संघनन रहित
विद्युत आपूर्ति आंतरिक लिथियम-आयन बैटरी
इंटरफेस USB
सिस्टम आवश्यकताएँ Windows 10 या 11, 300 MB HDD, 1 GB RAM
अंशांकन PTB के प्रति अनुरेखणीय
कोसाइन संशोधन हाँ

अक्सर पूछे जाने वाले प्रश्न: UVpad E

UVpad E विकिरण को SMA लाइट गाइड वाले बाह्य सेंसर हेड के माध्यम से स्पेक्ट्रोमीटर तक ले जाता है, जबकि UVpad में सेंसर उसके सपाट आवरण में ही होता है। इसलिए UVpad E उन बिंदुओं पर मापन करता है जहाँ 14 mm उपकरण फिट नहीं होता, उदाहरण के लिए किसी विकिरणन कक्ष के भीतर, किसी रिएक्टर विंडो पर या गर्म लैंपों पर, जबकि इलेक्ट्रॉनिक्स बाहर रहते हैं। वर्णक्रमीय परास 2–5000 mW/cm² पर 240–480 nm है (High Power संस्करण में 20 W/cm² तक)।

जी हाँ। ICH दिशानिर्देश Q1B के अनुसार कम से कम 200 Wh/m² UVA उद्भासन और 1.2 मिलियन लक्स घंटे दृश्य प्रकाश का प्रमाण आवश्यक है। UVpad E अपनी 240 से 480 nm की परास के साथ UVA विकिरण तीव्रता को वर्णक्रमीय रूप से मापता है और कक्ष के चलने की अवधि पर विकिरण मात्रा की गणना करता है; सेंसर हेड नमूना तल पर रखा जाता है। लक्स घंटों के लिए RMD पर एक LUX सेंसर जोड़ा जाता है या 1100 nm तक की परास वाला SR900 उपयोग किया जाता है।

मानक संस्करण 2–5000 mW/cm² मापता है, High Power संस्करण 25–20,000 mW/cm²; विकिरण मात्रा 600 J/cm² तक दर्ज की जाती है। चूँकि हेड में केवल प्रकाशिकी होती है, यह उपकरण की तुलना में अधिक तापमान सहन करता है; सेंसर हेड 0 से 70 °C तक और उपकरण 0 से 60 °C तक रेट किया गया है। फोकस में UV LED लैंपों के लिए High Power संस्करण का उद्देश्य 512-पिक्सेल एरे की संतृप्ति से बचना है।

अंशांकन प्रमाणपत्र में विस्तारित अंशांकन अनिश्चितता k = 2 के साथ दी जाती है; UVpad E के लिए यह सामान्यतः 5.0–9.5 % होती है। उपयोग के दौरान मापन अनिश्चितता अधिक होती है, क्योंकि वास्तव में उपयोग किए गए स्रोत पर वर्णक्रमीय असंगति, सेंसर तापमान, जीर्णन और मापन ज्यामिति इसमें जुड़ जाते हैं। ये किस प्रकार मिलकर एक अनिश्चितता बजट बनाते हैं, इसे यूवी मापन में मापन अनिश्चितता के अंतर्गत समझाया गया है।

सेंसर हेड का कोसाइन सुधार

ऑर्डर नंबर, डिलीवरी का दायरा, सहायक उपकरण और संस्करण

उपकरणऑर्डर नंबर
UVpad E670027

डिलीवरी के दायरे में शामिल हैं: UVpad E, 1.5 m की एक ऑप्टिकल फाइबर, बाहरी सेंसर टाइप 1 (जब तक अन्यथा न बताया गया हो), फैक्ट्री अंशांकन प्रमाणपत्र, सॉफ्टवेयर, एक USB केबल और एक ट्रांसपोर्ट केस।

ऑर्डर नंबर670027HP
मापन सीमा25–20000 mW/cm²

अधिक विकिरण तीव्रता वाले यूवी लैंप के लिए। अन्य सभी डेटा मानक संस्करण के अनुसार हैं।

ऑर्डर नंबर670027HS
मापन सीमा1–1000 mW/cm²

कम विकिरण तीव्रता वाले अनुप्रयोगों के लिए। अन्य सभी डेटा मानक संस्करण के समान हैं।

पदनामऑर्डर नंबर
ISO 17025 अंशांकन17026-1

हमारी स्वयं की अंशांकन प्रयोगशाला में मान्यता प्राप्त ISO 17025 अंशांकन और परीक्षण। डिलीवरी के समय UVpad E पहले से ही फैक्ट्री-अंशांकित होता है; ISO 17025 अंशांकन को विकल्प के रूप में ऑर्डर किया जा सकता है।

सेंसर हेडआयाम
टाइप 1Ø 40 mm, h 35 mm
टाइप 2Ø 40 mm, h 25 mm
टाइप 3Ø 40 mm, h 10 mm

सेंसर हेड ऑर्डर के साथ बताया जाता है। बिना किसी उल्लेख के हम टाइप 1 की आपूर्ति करते हैं। तीनों प्रकार ऑप्टिकल फाइबर (1.5 m) के माध्यम से जुड़े होते हैं।

UVpad स्पेक्ट्रोमीटर का उपयोग करने वाले प्रकाशन

हम इस व्यक्तिगत डिवाइस के लिए अलग ग्रंथ सूची नहीं रखते – प्रकाशन आमतौर पर उत्पाद परिवार का नाम बताते हैं, न कि मॉडल का। यहाँ सूचीबद्ध वे 10 सबसे हाल के कार्य हैं जिनमें UVpad स्पेक्ट्रोमीटर का उपयोग किया गया था।

शीर्षकलेखकजर्नलवर्ष
Influence of different UV spectra and intensities on yield and quality of cannabis inflorescencesHuebner, D. S.; Batarshin, M.; Beck, S. et al.Frontiers in Plant Science2024
On-Site Inactivation for Disinfection of Antibiotic-Resistant Bacteria in Hospital Effluent by UV and UV-LEDAzuma, T.; Usui, M.; Hasei, T. et al.Antibiotics2024
Multiparameter Single Sensor for Space Silicone Adhesive Monitoring Under High-Vacuum Ultraviolet ExposureFazzi, L.; Dias, N.; Holynska, M. et al.Journal of Spacecraft and Rockets2023
Quantification and elucidation of the UV‐light triggered initiation kinetics of TPO and BAPO in liquid acrylate monomerRuhland, K.; Habibollahi, F.; Horny, R.Journal of Applied Polymer Science2019
Diklofenaakin ja diatritsoaatin kvantitatiivisten ja kvalitatiivisten tutkimuksien analyysimenetelmät——2022
Synthesis of Spherical Nanoparticle Hybrids via Aerosol Thiol-Ene Photopolymerization and Their BioconjugationSuvarli, N.; Frentzel, M.; Hubbuch, J. et al.Nanomaterials2022
UV Radiation Sources, UV Radiation Absorption, and UV Radiation MeasurementBaro, J.; Fleckenstein, C.Inkjet Printing in Industry2022
Aging of 3D printed polymers under sterilizing UV-C radiationAmza, C. G.; Zapciu, A.; Baciu, F. et al.Polymers2021
High-intensity high-temperature testing of materials for the Bepi Colombo MPO and MTM solar arraysTighe, A.; Bras, B.; Hołyńska, M. et al.CEAS Space Journal2021
Short wavelength UV–LED photoinitiated radical polymerization of acrylate–based coating systems—A comparison with conventional UV curing.——2021