यूवी मापन: सेंसर से विश्वसनीय रीडिंग तक
यूवी रीडिंग उतनी ही अच्छी होती है जितनी उसके पीछे की श्रृंखला: सेंसर, फ़िल्टर, अंशांकन और मापन ज्यामिति। ये पृष्ठ दिखाते हैं कि यूवी सेंसर कैसे बनाया जाता है, वर्णक्रमीय और मापन परास कार्य के अनुरूप कैसे मेल खाती है, और कौन-से विचलन क्रमबद्ध रूप से उत्पन्न होते हैं।
वर्णक्रमीय बेमेल केंद्रीय है: प्रत्येक फ़िल्टर किया गया सेंसर लक्ष्य अनुक्रियाशीलता से विचलित होता है, और यह विचलन परिणाम में मापन अनिश्चितता के रूप में आता है। इसके साथ अंशांकन अंतराल जुड़ता है, जो समय के साथ मापीय अनुरेखणीयता बनाए रखता है, और मापन प्रणाली विश्लेषण, जो दर्शाता है कि प्रणाली परीक्षण कार्य के लिए उपयुक्त है।
राशियाँ स्वयं – विकिरणमितीय और प्रकाशमितीय – तथा वर्णक्रमीय परास और मानक एक स्तर ऊपर यूवी ज्ञान के अंतर्गत स्थित हैं।
यूवी सेंसर कैसे काम करते हैं
मुख्य अवधारणा: ब्रॉडबैंड रेडियोमीटर, स्पेक्ट्रोरेडियोमीटर, माप अनिश्चितता
यूवी विकिरण को केवल अप्रत्यक्ष रूप से, किसी डिटेक्टर पर उसके प्रभाव के माध्यम से मापा जा सकता है। यह लेख ब्रॉडबैंड रेडियोमीटर और स्पेक्ट्रोरेडियोमीटर की तुलना करता है और दिखाता है कि वर्णक्रमीय प्रतिक्रियाशीलता, कोणीय प्रतिक्रिया और अवांछित प्रकाश…
यूवी सेंसर का चयन
मुख्य अवधारणा: वर्णक्रमीय परास, माप परास, माप ज्यामिति
यूवी सेंसर का चयन दो राशियों पर निर्भर करता है: अनुप्रयोग या फोटोइनिशिएटर की वर्णक्रमीय परास और अपेक्षित विकिरण तीव्रता। यह लेख दोनों निर्णयों की विस्तार से चर्चा करता है और सामान्य मान प्रस्तुत करता है।
यूवी सेंसर के लिए वर्णक्रमीय बेमेल
संक्षिप्त उत्तर: प्रत्येक फ़िल्टर्ड सेंसर में यह होता है – स्रोत के अनुसार अंशांकन करने से मदद मिलती…
वर्णक्रमीय बेमेल किसी सेंसर की वास्तविक प्रतिक्रियाशीलता का आदर्श आयताकार भारण फलन से विचलन है। यह लेख बताता है कि यह कैसे उत्पन्न होता है, यह सामान्यतः कितना बड़ा होता है और परिणामी त्रुटि को कैसे सुधारा जाता है।
यूवी मापन में मापन अनिश्चितता
अंशांकन प्रमाणपत्र में अंशांकन अनिश्चितता दर्ज होती है, जबकि आपके अपने सेटअप में इससे बड़ी मापन अनिश्चितता होती है। यह लेख कवरेज फैक्टर k = 2, अनिश्चितता बजट में शामिल योगदानों की व्याख्या करता है और एक उदाहरण के माध्यम से इसे समझाता है।
यूवी विकिरण मात्रा और विकिरण तीव्रता का सही मापन
विकिरण तीव्रता आपतित विकिरण शक्ति है, विकिरण उद्भासन इसका कालिक समाकल है - सामान्य उपयोग में दोनों को विकिरण मात्रा कहा जाता है। यह लेख इन राशियों और उनकी इकाइयों को अलग करता है और दिखाता है कि वर्णक्रमीय अनुक्रियाशीलता से लेकर माप ज्यामिति तक कौन से…
कन्वेयर सिस्टम और सतत प्रक्रियाओं के लिए यूवी मापन
कन्वेयर सिस्टम में कार्यखंड सीमित समय में विकिरणन क्षेत्र से गुजरता है – प्रभावी विकिरण मात्रा उस प्रोफ़ाइल का समाकलन होती है, न कि शिखर विकिरण तीव्रता और ठहराव समय का गुणनफल। यह लेख दर्शाता है कि एक बेल्ट रेडियोमीटर कौन-सी तीन राशियाँ प्रदान करता है…
यूवी मापन उपकरणों के लिए अंशांकन अंतराल
संक्षिप्त उत्तर: सामान्यतः 12 माह, अधिक उपयोग की स्थिति में कम
अंशांकन कितने समय तक वैध रहता है यह सेंसर प्रकार, उपयोग भार और भंडारण पर निर्भर करता है। यह लेख अनुशंसित 12 माह के अंतराल और उसे छोटा करने वाली परिस्थितियों के बारे में बताता है।
यूवी सेंसर का मापन प्रणाली विश्लेषण
संक्षिप्त उत्तर: मापन प्रणाली विश्लेषण (MSA) से cg और cgk
एक क्षमता अध्ययन सांख्यिकीय रूप से सिद्ध करता है कि कोई यूवी मापन प्रणाली अपने कार्य के लिए उपयुक्त है। यह लेख cg और cgk सूचकांकों, मापन प्रणाली विश्लेषण कैसे किया जाता है, तथा कितना विक्षेपण अभी भी स्वीकार्य है, को समझाता है।
