विकिरण तीव्रता (इरेडियंस) और यूवी विकिरण मात्रा के लिए यूवी मीटर तथा विकिरणमापी (रेडियोमीटर)
यूवी मीटर और विकिरणमापी (रेडियोमीटर) निर्धारित वर्णक्रमीय परासों में विकिरण तीव्रता (इरेडियंस) या यूवी विकिरण मात्रा को मापते हैं। उचित चयन के लिए यह आवश्यक है कि विकिरण स्रोत, तरंगदैर्घ्य परास, अपेक्षित पठन मान, ज्यामिति और प्रचालन परिवेश एक-दूसरे के अनुरूप हों। Opsytec, UVA, UVB और UVC अनुप्रयोगों के लिए पोर्टेबल विकिरणमापी (रेडियोमीटर), डोसीमीटर तथा प्रक्रिया-पक्ष मापन प्रणालियाँ प्रदान करता है। उत्पाद अवलोकन मापन कार्य और मापन परास के अनुसार आपको सही प्रणाली तक पहुँचाता है।
विकिरण तीव्रता (इरेडियंस) और विकिरण मात्रा को कैसे परिभाषित किया जाता है तथा कौन-कौन से प्रभाव मापन परिणाम को निर्धारित करते हैं, इसकी व्याख्या यूवी विकिरण मात्रा और विकिरण तीव्रता का सही मापन पृष्ठ पर दी गई है।
यूवी मीटरों को 3D मॉडल के रूप में देखें
यूवी मीटरों को सभी कोणों से देखें, उन्हें घुमाएँ, ज़ूम करें – और उनका प्रचालन करें।
यूवी मापन उपकरणों को 3D में सहभागी रूप से देखें
3D उत्पाद व्यूअर Opsytec उत्पादों को वास्तविक जैसे 3D मॉडल के रूप में प्रदर्शित करता है। मापन उपकरणों के लिए आप डिस्प्ले के साथ सहभागिता कर सकते हैं—मेन्यू में नेविगेट करना भी संभव है। यूवी मीटर और सेंसर को सीधे अपने ब्राउज़र में घुमाएँ, ज़ूम करें और देखें—किसी इंस्टॉलेशन की आवश्यकता नहीं!
यूवी मीटर क्या मापता है – और सीमा कहाँ है
यूवी मीटर किसी निर्धारित वर्णक्रमीय बैंड के भीतर विकिरण तीव्रता (इरेडियंस) और समय पर समाकलित करने पर यूवी विकिरण मात्रा देता है। पाठ्यांक को जो नियंत्रित करता है, वह सेंसर की वर्णक्रमीय अनुक्रियाशीलता है; अभिकल्पना और मापन भौतिकी को यूवी सेंसर की अभिकल्पना और त्रुटि स्रोत के अंतर्गत कवर किया गया है।
चौड़ी बैंड वाले विकिरणमापी (रेडियोमीटर) उस निर्धारित अनुक्रियाशीलता के भीतर विकिरण को समाकलित करते हैं और तेज़ प्रक्रिया एवं विकिरण मात्रा जाँच के लिए उपयुक्त हैं। स्पेक्ट्रोरेडियोमीटर (वर्णक्रमीय विकिरणमापी) विकिरण को तरंगदैर्घ्य के अनुसार विभेदित करते हैं और जब भी वर्णक्रमीय वितरण, शिखर स्थिति या वर्णक्रमीय बेमेल का आकलन करना हो, तब इनकी आवश्यकता होती है – तरंगदैर्घ्य-विभेदित मापन के लिए स्पेक्ट्रोरेडियोमीटर इसी हेतु हैं। कौन सा वर्ग किस माप कार्य के लिए उपयुक्त है, यह चौड़ी बैंड या स्पेक्ट्रोरेडियोमीटर: माप कार्य के अनुसार चयन में तय किया गया है।
निम्नलिखित अवलोकन आवश्यकता से उपकरण तक ले जाता है; मॉडल तुलनाएँ उत्पाद पृष्ठों पर दी गई हैं।
कौन सा उपकरण किस मापन कार्य के लिए उपयुक्त है
| आवश्यकता | उपयुक्त प्रणाली | चयन से पहले स्पष्ट करें |
|---|---|---|
| UVA, UVB या UVC में हाथ से पकड़कर प्रक्रिया मापन | RM-12 | वर्णक्रमीय परिसर और अपेक्षित अधिकतम मान |
| विस्तृत डायनेमिक परिसर, डेटा लॉगिंग, विनिमेय मापन शीर्ष | RMD Pro | प्रति मापन शीर्ष वर्णक्रमीय परिसर; उत्पाद पृष्ठ पर RMD और RMD Pro की तुलना |
| प्रयोगशाला उपयोग और सुविधाजनक प्रचालन | RMD Touch | उत्पाद पृष्ठ पर RMD Touch और RMD Pro की तुलना |
| वेब लाइन पर या कन्वेयर के साथ विकिरण मात्रा | curelog, curelog Base, tinyTracker, tinyTracker 172 nm | चक्र समय, ऊँचाई, डायनेमिक परिसर और ज्यामिति |
| स्थायी संयंत्र निगरानी और एकीकरण | RM-32, इनलाइन सेंसर | इंटरफ़ेस, मापन शीर्ष और आरोहण स्थिति |
| पेयजल विसंक्रमण में संदर्भ मापन | DVGW संदर्भ विकिरणमापी (रेडियोमीटर) | DIN 19294 के अंतर्गत आवश्यकता और अंशांकन अंतराल |
| अज्ञात या परिवर्तनशील वर्णक्रम | स्पेक्ट्रोरेडियोमीटर (वर्णक्रमीय विकिरणमापी) (पृथक श्रेणी) | तरंगदैर्घ्य परिसर और वर्णक्रमीय विभेदन |
UVC स्रोतों – निम्न-दाब लैंप, UVC LED और एक्साइमर लैंप – के लिए UVC मीटर पृष्ठ उपकरणों, सेंसरों और मापन परासों की तुलना करता है।
यूवी से निकट अवरक्त तक के LED के लिए LED मापन प्रौद्योगिकी पृष्ठ स्पेक्ट्रम, विकिरण तीव्रता और ज्योति फ्लक्स को उपयुक्त मापक यंत्रों से जोड़ता है।
उपकरण क्या रिपोर्ट करते हैं
- विकिरण तीव्रता (इरेडियंस) – W/m², mW/cm² या µW/cm² में तात्क्षणिक मान; 10 mW/cm² 100 W/m² के बराबर होता है। विकिरण तीव्रता परिवर्तित करें
- यूवी विकिरण मात्रा – विकिरण तीव्रता को उद्भासन समय से गुणा करने पर J/m² में प्राप्त मान, जो यूवी क्योरिंग (पराबैंगनी उपचारण) और यूवी विसंक्रमण में निर्णायक राशि है। यूवी विकिरण मात्रा की गणना करें
- वर्णक्रमीय परिसर – UVA 315–400 nm, UVB 280–315 nm, UVC 200–280 nm; ये सीमाएँ भौतिकी से अधिक परिपाटी पर आधारित हैं, देखें वर्णक्रमीय परिसर और मानक।
सभी सेंसर और उपकरण अंशांकित हैं तथा राष्ट्रीय मानकों तक मापीय अनुरेखणीयता रखते हैं; पुनर्अंशांकन DIN EN ISO/IEC 17025 के अनुसार प्रत्यायित हमारी अपनी प्रयोगशाला में किया जाता है। विवरण यूवी अंशांकन के अंतर्गत दिए गए हैं, और उपयुक्त अंतराल अंशांकन अंतराल के अंतर्गत।
यूवी मीटर के चयन पर अक्सर पूछे जाने वाले प्रश्न
मुझे किस राशि की आवश्यकता है – विकिरण तीव्रता (इरेडियंस) या विकिरण मात्रा?
विकिरण तीव्रता (इरेडियंस) (mW/cm² या W/m²) तात्क्षणिक मान है और किसी स्रोत को स्थापित करने या उसकी निगरानी करने के लिए उपयुक्त राशि है। विकिरण मात्रा (J/m² या mJ/cm²) उसका कालिक समाकलन है और यूवी क्योरिंग (पराबैंगनी उपचारण) तथा यूवी विसंक्रमण में निर्णायक राशि है, जहाँ संचित प्रभाव महत्वपूर्ण होता है। tinyTracker और curelog जैसे उपकरण विकिरण मात्रा को सीधे प्रक्रिया में ही अभिलेखित करते हैं।
उपकरण को कौन-सी वर्णक्रमीय परिसर कवर करनी चाहिए?
वह जो स्रोत की है, उपकरण की नहीं। चूँकि सेंसर विनिमेय और व्यक्तिगत रूप से अंशांकित होते हैं, इसलिए एक ही प्रदर्शन इकाई कई परिसरों को कवर करती है; यदि वर्णक्रम अज्ञात हो या बदलता रहे, तो ब्रॉडबैंड या स्पेक्ट्रोरेडियोमीटर (वर्णक्रमीय विकिरणमापी): मापन कार्य के अनुसार चयन उपयुक्त उपकरण श्रेणी खोजने में सहायक होता है।
मैं मापन परिसर का चयन कैसे करूँ?
मापन स्थान पर अपेक्षित विकिरण तीव्रता (इरेडियंस) के आधार पर, स्रोत के अधिकतम निर्गत के आधार पर नहीं। पठन परिसर के भीतर सुरक्षित रूप से होना चाहिए – ऊपरी सीमा के निकट अतिचालन का जोखिम रहता है, निचली सीमा के निकट संकेत-से-रव अनुपात प्रभावित होता है।
क्या उपकरण अंशांकित हैं और उनका पुनर्अंशांकन संभव है?
हाँ, सभी सेंसर और उपकरण अंशांकित अवस्था में भेजे जाते हैं और उनका पुनर्अंशांकन किया जा सकता है। प्रक्रिया और परिधि यूवी अंशांकन के अंतर्गत दी गई है, तथा उपयुक्त अंतराल का प्रश्न अंशांकन अंतराल के अंतर्गत।
सही सेंसर खोजें
सही सेंसर खोजें: यूवी सेंसर फाइंडर अनुप्रयोग, तरंगदैर्घ्य और आकार के अनुसार तीन सर्वाधिक अनुकूल यूवी सेंसर और मापी प्रस्तावित करता है – मुख्य मानों, सिस्टम पार्टनर और कारणों के साथ।
लेखक: Dr. Mark Paravia
Dr.-Ing. Mark Paravia Ettlingen स्थित Opsytec Dr. Gröbel GmbH के प्रबंध निदेशक हैं और प्रत्यायित अंशांकन प्रयोगशाला का नेतृत्व करते हैं। KIT के प्रकाश प्रौद्योगिकी संस्थान में स्पंदित ज़ेनॉन एक्साइमर विसर्जन पर अपने शोध के बाद, उनका वर्तमान केंद्रबिंदु प्रकाशिक विकिरण मापन प्रौद्योगिकी है। वे DIN मानक समिति FNL 7 "प्रकाशिक विकिरण" के उपाध्यक्ष तथा यूवी विसंक्रमण पर DVGW परियोजना समूह के सदस्य हैं।