דילוג לתוכן הראשי דילוג לכותרת התחתונה של העמוד
professional
photonics.

מדי UV ורדיומטרים לעצמת קרינה נופלת ולמנת קרינת UV

מדי UV ורדיומטרים קולטים עצמת קרינה נופלת או מנת קרינת UV בטווחים ספקטרליים מוגדרים. בחירה נכונה מחייבת התאמה בין מקור הקרינה, טווח אורכי הגל, הקריאה הצפויה, הגאומטריה וסביבת ההפעלה. Opsytec מציעה רדיומטרים ניידים, דוזימטרים ומערכות מדידה לצד התהליך עבור יישומי UVA, ‏UVB ו-UVC. סקירת המוצרים מובילה אל המערכת המתאימה לפי משימת המדידה וטווח המדידה.

כיצד מוגדרות עצמת הקרינה הנופלת ומנת הקרינה ואילו השפעות קובעות את תוצאת המדידה מוסבר בעמוד מדידה נכונה של מנת קרינת UV ושל עצמת הקרינה הנופלת.

צפייה במודדי UV כמודל תלת-ממדי

הביטו במודדי UV מכל הזוויות, סובבו אותם, התקרבו – והפעילו אותם.

חקרו מכשירי מדידת UV באופן אינטראקטיבי בתלת-ממד

מציג המוצרים בתלת-ממד מציג את מוצרי Opsytec כמודלים תלת-ממדיים נאמנים למציאות. במכשירי המדידה ניתן לתקשר עם הצג — כולל ניווט בתפריטים. סובבו, הגדילו וחקרו מדי UV וחיישנים ישירות בדפדפן שלכם — ללא צורך בהתקנה!

רדיומטר RMD Pro

רדיומטר כף-יד דיגיטלי לחלוטין למדידת עצמת קרינה ומנת קרינה, עם שני כניסות לחיישנים וזיכרון של 8 GB.

RMD Touch

רדיומטר מעבדה דיגיטלי עם מסך מגע למדידת עצמת קרינה נופלת ומנת קרינה בשני כניסות חיישן.

RM-12

מד יד למדידת עצמת קרינה ותאורה עם חיישנים מתחלפים.

curelog

רדיומטר ודוזימטר שטוח הנע דרך מערכות מסוע UV בקצב של עד 2000 קריאות/s, בעד ארבעה תחומים ספקטרליים.

curelog Base

מד מנת קרינת UV קומפקטי למדידת עצמת קרינת שיא ומנת קרינה של מעבר אחד, בעובי 14 mm.

tinyTracker 172nm

רדיומטר מכויל למנורות קסנון אקסימר באורך גל 172 nm, בעובי שטוח של 10 mm המתאים למערכות הסעה.

tinyTracker

רדיומטר למערכות מסועים בגובה של 10 mm בלבד, מודד משני הצדדים, עם קליטת נתונים בתדר של עד 25 Hz.

RM-32

מד לוח למדידת עצמת קרינה נופלת עם סף מיתוג ושני ממסרי אזעקה למעקב אחר מנורות.

מה מודד מד UV – והיכן נמצא הגבול

מד UV מחזיר את עצמת הקרינה הנופלת בתוך תחום ספקטרלי קבוע, ובאינטגרציה לאורך הזמן – את מנת הקרינה של ה-UV. מה שקובע את הקריאה הוא התגובתיות הספקטרלית של החיישן; התכן ופיזיקת המדידה מפורטים תחת תכן ומקורות שגיאה של חיישני UV.

רדיומטרים רחבי-פס מבצעים אינטגרציה של הקרינה בתוך אותה תגובתיות קבועה ומתאימים לבדיקות מהירות של תהליך ושל מנת קרינה. ספקטרורדיומטרים מפרידים את הקרינה לפי אורך גל ונדרשים בכל מקרה שבו יש להעריך את ההתפלגות הספקטרלית, את מיקום השיא או אי-התאמה ספקטרלית – לשם כך קיימים ספקטרורדיומטרים למדידה בהפרדת אורכי גל. איזו קטגוריה מתאימה לאיזו משימת מדידה נקבע ברדיומטר רחב-פס או ספקטרורדיומטר: בחירה לפי משימת המדידה.

הסקירה שלהלן מובילה מהדרישה אל המכשיר; השוואות הדגמים מופיעות בדפי המוצר.

איזה מכשיר מתאים לאיזו משימת מדידה

דרישהמערכת מתאימהלבדוק לפני הבחירה
מדידה ידנית בתהליך בתחומי UVA, UVB או UVCRM-12התחום הספקטרלי והערך המקסימלי הצפוי
תחום דינמי רחב, רישום נתונים, ראשי מדידה מתחלפיםRMD Proהתחום הספקטרלי לכל ראש מדידה; השוואה בין RMD ל-RMD Pro בעמוד המוצר
שימוש במעבדה ותפעול נוחRMD Touchהשוואה בין RMD Touch ל-RMD Pro בעמוד המוצר
מנת קרינה על קו יריעה או לאורך מסועcurelog, curelog Base, tinyTracker, tinyTracker 172 nmזמן מחזור, גובה, תחום דינמי וגיאומטריה
ניטור קבוע של המתקן ושילוב במערכתRM-32, חיישנים מקווניםממשק, ראש מדידה ומקום ההתקנה
מדידת ייחוס בחיטוי מי שתייהרדיומטר ייחוס DVGWהדרישה לפי DIN 19294 ומרווח הכיול
ספקטרום לא ידוע או משתנהספקטרורדיומטרים (קטגוריה נפרדת)תחום אורכי הגל והרזולוציה הספקטרלית

עבור מקורות UVC – מנורות לחץ נמוך, לדי UVC ומנורות אקסימר – העמוד מד UVC משווה בין מכשירים, חיישנים ותחומי מדידה.

עבור רכיבי LED מתחום ה-UV ועד האינפרה-אדום הקרוב, הדף טכנולוגיית מדידת LED משייך את הספקטרום, עצמת הקרינה הנופלת ושטף האור למכשירי המדידה המתאימים.

מה המכשירים מדווחים

  • עצמת קרינה נופלת – הערך הרגעי ב-W/m², mW/cm² או µW/cm²; 10 mW/cm² שווים ל-100 W/m². המרת עצמת קרינה נופלת
  • מנת קרינת UV – עצמת הקרינה הנופלת מוכפלת בזמן החשיפה, ביחידות J/m², הגודל הקובע בהקשיה בקרינת UV ובחיטוי UV. חישוב מנת קרינת UV
  • תחום ספקטרלי – UVA 315 עד 400 nm, UVB 280 עד 315 nm, UVC 200 עד 280 nm; הגבולות הם עניין של מוסכמה ולא של פיזיקה, ראו תחומים ספקטרליים ותקנים.

כל החיישנים והמכשירים מכוילים ובעלי עקיבות מטרולוגית לתקנים לאומיים; הכיול מחדש מתבצע במעבדה שלנו, המוסמכת לפי DIN EN ISO/IEC 17025. הפרטים מובאים תחת כיול UV, והמרווח המתאים תחת מרווח כיול.

שאלות נפוצות בבחירת מכשיר מדידת UV

איזה גודל נדרש לי – עצמת קרינה נופלת או מנת קרינה?
עצמת קרינה נופלת (mW/cm² או W/m²) היא הערך הרגעי והגודל הנכון לכיוונון או לניטור של מקור קרינה. מנת קרינה (J/m² או mJ/cm²) היא האינטגרל שלה בזמן והגודל הקובע בהקשיה בקרינת UV ובחיטוי ב-UV, שבהם חשובה ההשפעה המצטברת. מכשירים כגון tinyTracker ו-curelog מודדים את מנת הקרינה ישירות בתהליך.

איזה תחום ספקטרלי על המכשיר לכסות?
את זה של מקור הקרינה, ולא את זה של המכשיר. מכיוון שהחיישנים ניתנים להחלפה ומכוילים באופן פרטני, יחידת תצוגה אחת מכסה כמה תחומים; אם הספקטרום אינו ידוע או משתנה, רדיומטר רחב-סרט או ספקטרורדיומטר: בחירה לפי משימת המדידה יסייע לכם למצוא את סוג המכשיר המתאים.

כיצד אבחר את תחום המדידה?
לפי עצמת הקרינה הנופלת הצפויה במקום המדידה, ולא לפי התפוקה המקסימלית של מקור הקרינה. הקריאה צריכה להימצא בבטחה בתוך התחום – בסמוך לגבול העליון קיים סיכון להצפת החיישן, ובסמוך לגבול התחתון נפגע יחס האות לרעש.

האם המכשירים מכוילים וניתנים לכיול מחדש?
כן, כל החיישנים והמכשירים נשלחים מכוילים וניתן לכייל אותם מחדש. ההליך והיקפו מפורטים תחת כיול UV, ושאלת המרווח המתאים תחת מרווח הכיול.

מצאו את החיישן המתאים

מצאו את החיישן המתאים: מאתר חיישני UV מציע את שלושת חיישני ומדי ה-UV (על-סגול) המתאימים ביותר לפי יישום, אורך גל וצורת מארז – כולל ערכים עיקריים, רכיב מערכת משלים ונימוקים.

מומחה תחום

מחבר: ד"ר Mark Paravia

ד"ר-מהנדס Mark Paravia הוא המנהל הכללי של Opsytec Dr. Gröbel GmbH באטלינגן ועומד בראש מעבדת הכיול המוסמכת. לאחר מחקריו על פריקות אקסימר של קסנון בפולסים במכון לטכנולוגיית תאורה ב-KIT, מוקד עיסוקו כיום הוא טכנולוגיית מדידה של קרינה אופטית. הוא סגן יושב ראש ועדת התקינה DIN‏ FNL 7 "קרינה אופטית", וחבר בקבוצת הפרויקט של DVGW לחיטוי ב-UV.