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在工业与制造领域,紫外辐射是具有节拍时间和放行标准的生产工序——从紫外固化和粘接,到电子、包装和光学,再到汽车制造,无所不包。因此,测量需在工件上最不利的位置、并在运行过程中进行。
测量对象:工件上的辐照度、后固化剂量
基于光的3D打印通过空间可控的光聚合反应固化工件,并仅在后固化阶段达到最终状态。本文介绍如何测量工件上的曝光、后固化与遮蔽情况。
测量参数:晶圆及元件级的UVC辐照度、剂量
在半导体与电子制造中,紫外光用于表面的光化学清洗与活化,以及对辐射敏感层的曝光。本文介绍这两项任务及其在后端工艺中的测量参数。
测量参数:包装最不利点的UVC剂量
瓶盖、预制件及设备表面的紫外线消毒正在取代灌装线中的化学与热处理工艺。本文说明为何必须在循环时间内的最不利点测量剂量。
测量对象:具有确定测量几何结构的辐照度、UVC剂量
对于光学精密元件而言,表面即功能。紫外可去除有机薄膜、激活玻璃和塑料并固化接头——本文展示了如何以非接触方式对此进行测量和记录。
测量对象:沿路径的剂量分布、部件上的辐照度
在汽车制造中,紫外固化用于使粘合剂、涂层和灌封材料在具有不同距离和角度的三维部件上交联;本文介绍如何借助机器人引导测量剂量分布。
Dr. Mark Paravia 电话:+49 (0)7243 / 94 783 - 50